Способ контроля дефектности объекта

Область применения: Различные отрасли промышленности: контроль дефектности объекта
Аннотация: Сущность: заключается в том, что возбуждают резонансные механические колебания в контролируемом объекте, определяют их параметры, в качестве одного из которых выбирают количество резонансных пиков в заданном частотном интервале, сравнивают их с эталонными значениями, по отклонению от которых судят о наличии дефекта, при этом используют минимальную вынуждающую силу, позволяющую выявлять все значимые резонансные частоты, частоту вынуждающей силы последовательно изменяют в заданном частотном интервале, содержащем основные гармоники и несколько обертонов в серии эталонных объектов, после чего строят акустический спектр объекта - зависимость амплитуды возникающих колебаний от частоты, а резонансные пики определяют по превышению величины их добротности над пороговым эталонным значением. Технический результат: повышение надежности при определении дефектности объектов, изготовленных из различных материалов.
Объект интеллектуальной собственности: изобретение
Автор/разработчик: Петров Владимир Владимирович, Лапин Сергей Александрович, Чирков Виктор Юрьевич, Куриленко Станислав Сергеевич
Стадия освоения разработки: серийное производство
Охранные документы: патент РФ № 2308028 от 10.10.2007
Формы сотрудничества: внедрение новой технологии
Название предприятия: "СпектрАкустика", корпорация, ООО
Статус: юридическое лицо
Адрес: г. Саратов, ул. Университетская 65/73, к. 22
Телефон: +7 (8452) 51-77-52
Факс: +7 (8452) 51-77-50
E-mail: info@spectracoustics.ru
Адрес Web: www.spectracoustics.ru
ГРНТИ: 59.39.33
Версия МПК: 8
Основные коды МПК: G01N29/04
Регион: Саратовская область, г.Саратов
Дополнительная информация: Поиск новых научно-технических решений и разработка систем и технологий в области акустики, акустооптики и оптоакустики; разработка систем бездефектного контроля физических параметров изделий сложных форм и оказание услуг в этой области; исследование и разработка новой продукции в области биофизики.