.детектирование или определение местоположения неисправных вспомогательных схем, например неисправных счетчиков регенерации
G11C 29/04
.детектирование или определение местоположения неисправных элементов памяти
G11C 29/06
..испытание на ускорение
G11C 29/08
..функциональные испытания, например испытание во время регенерации (обновления) данных, самотестирование при включении питания (POST) или распределенные испытания
G11C 29/10
...алгоритмы испытаний, например алгоритм сканирования памяти (MScan); последовательности тестирования, например в шахматном порядке
G11C 29/12
...встроенные (аппаратные) средства самотестирования (BIST)
G11C 29/14
....реализация логики управления, например декодеры режима тестирования
G11C 29/16
.....с использованием микропрограммных блоков, например конечных автоматов
G11C 29/18
....устройства генерирования адреса; устройства для доступа к памяти, например элементы схем адресации
G11C 29/20
.....и использованием счетчиков или сдвиговых регистров с линейной обратной связью (LFSR)
G11C 29/22
.....доступ к последовательным запоминающим устройствам
G11C 29/24
.....доступ к дополнительным ячейкам памяти, например резервным ячейкам или переполненным ячейки
G11C 29/26
.....доступ к множественным массивам данных ( 29/24 имеет преимущество)
G11C 29/28
......зависимые множественные массивы, например многоразрядные массивы
....устройства формирования данных, например инверторы данных
G11C 29/38
....устройства проверки ответа на запрос
G11C 29/40
.....с использованием методов сжатия данных
G11C 29/42
.....с использованием кодов с исправлением ошибок (ECC) или констроля соотношений
G11C 29/44
....индикация или идентификация ошибок, например для ремонта
G11C 29/46
.....испытание триггерных логических схем
G11C 29/48
...приспособления в статических запоминающих устройствах, специально предназначенные для испытаний с помощью внешних средств по отношению к запоминающему устройству, например использование прямого доступа к памяти или вспомогательных путей доступа (внешнее оборудование для испытаний 29/56)
G11C 29/50
..граничные испытания, например проверка скорости, напряжения или тока
G11C 29/52
.защита содержимого памяти; обнаружение ошибок в содержимом памяти
G11C 29/54
.устройства для разработки схем тестирования, например подпрограмм тестирования (DFT)
G11C 29/56
.внешнее оборудование для испытаний статических запоминающих устройств, например автоматическое оборудование для тестирования (ATE) ; интерфейсы для таких испытаний
G11C 29/00 Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы 