ИННОВАЦИОННЫЕ ПРОЕКТЫ МАЛОГО БИЗНЕСА
projects.innovbusiness.ru
Вверх G01N 23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  21/00 или  22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения ( 3/00 - 17/00 имеют преимущество; измерение силы вообще  G 01L 1/00; измерение ядерного или рентгеновского излучения  G 01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах  G 21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них  H 05G)
  G01N 23/02.путем пропускания излучений через материал
  G01N 23/04..с последующим получением изображения (электронные микроскопы  H 01J)
  G01N 23/05...с использованием нейтронов
  G01N 23/06..с последующим измерением поглощения
  G01N 23/08...с помощью электрических средств обнаружения
  G01N 23/083....рентгеновского излучения ( 23/10 - 23/18 имеют преимущество)
  G01N 23/087.....с использованием полиэнергетического рентгеновского излучения
  G01N 23/09....нейтронного излучения
  G01N 23/10....материалов, заключенных в сосуд ( 23/09 имеет преимущество)
  G01N 23/12....жидких, газообразных или сыпучих веществ ( 23/09 имеет преимущество)
  G01N 23/14.....с регулированием или контролем процессов или с сигнализацией
  G01N 23/16....движущихся листовых материалов ( 23/09,  23/18 имеют преимущество)
  G01N 23/18....обнаружение локальных дефектов или вкраплений ( 23/09 имеет преимущество)
  G01N 23/20.с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
  G01N 23/201..путем измерения малых углов рассеяния
  G01N 23/202...с использованием нейтронов
  G01N 23/203..путем измерения обратного рассеяния
  G01N 23/204...с использованием нейтронов
  G01N 23/205..дифракционными камерами ( 23/201 имеет преимущество)
  G01N 23/206...с использованием нейтронного излучения
  G01N 23/207..средствами дифрактометрии с использованием детекторов, например с использованием различающего спектр кристалла или анализируемого кристалла, расположенного в центре, и одного или нескольких детекторов, перемещаемых по окружности ( 23/201 имеет преимущество; спектрометрия интенсивности индикаторного или измеряемого излучения  G 01T 1/36)
  G01N 23/22.измерением вторичной эмиссии
  G01N 23/221..активационным анализом
  G01N 23/222...с использованием нейтронов
  G01N 23/223..облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции
  G01N 23/225..с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа  H 01J 37/00)
  G01N 23/227..измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов
2003 - 2022 © НДП "Альянс Медиа"
Рейтинг@Mail.ruRambler's Top100