..с последующим получением изображения (электронные микроскопы H 01J)
G01N 23/05
...с использованием нейтронов
G01N 23/06
..с последующим измерением поглощения
G01N 23/08
...с помощью электрических средств обнаружения
G01N 23/083
....рентгеновского излучения ( 23/10 - 23/18 имеют преимущество)
G01N 23/087
.....с использованием полиэнергетического рентгеновского излучения
G01N 23/09
....нейтронного излучения
G01N 23/10
....материалов, заключенных в сосуд ( 23/09 имеет преимущество)
G01N 23/12
....жидких, газообразных или сыпучих веществ ( 23/09 имеет преимущество)
G01N 23/14
.....с регулированием или контролем процессов или с сигнализацией
G01N 23/16
....движущихся листовых материалов ( 23/09, 23/18 имеют преимущество)
G01N 23/18
....обнаружение локальных дефектов или вкраплений ( 23/09 имеет преимущество)
G01N 23/20
.с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения
G01N 23/201
..путем измерения малых углов рассеяния
G01N 23/202
...с использованием нейтронов
G01N 23/203
..путем измерения обратного рассеяния
G01N 23/204
...с использованием нейтронов
G01N 23/205
..дифракционными камерами ( 23/201 имеет преимущество)
G01N 23/206
...с использованием нейтронного излучения
G01N 23/207
..средствами дифрактометрии с использованием детекторов, например с использованием различающего спектр кристалла или анализируемого кристалла, расположенного в центре, и одного или нескольких детекторов, перемещаемых по окружности ( 23/201 имеет преимущество; спектрометрия интенсивности индикаторного или измеряемого излучения G 01T 1/36)
G01N 23/22
.измерением вторичной эмиссии
G01N 23/221
..активационным анализом
G01N 23/222
...с использованием нейтронов
G01N 23/223
..облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции
G01N 23/225
..с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа H 01J 37/00)
G01N 23/227
..измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов
G01N 23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения ( 3/00 - 17/00 имеют преимущество; измерение силы вообще G 01L 1/00; измерение ядерного или рентгеновского излучения G 01T; введение объектов или материалов в ядерные реакторы, извлечение их из ядерных реакторов или хранение их после обработки в ядерных реакторах G 21C; конструкция или принцип действия рентгеновских аппаратов или схемы для них H 05G)